Ny målemetode optimerer EMC-analyse: Langer SDM til hardware-udvikling og uddannelse
Udviklingen af moderne højhastighedselektronik og kompakte IoT-enheder stiller massive krav til elektromagnetisk kompatibilitet (EMC). For både hardware-udviklere (R&D) og akademiske uddannelsesinstitutioner har det dog længe været en barriere at udføre præcise, reproducerbare målinger af tynde materialers effektivitet mod magnetiske nærfelter.
Med det nye Shielding Measurement System (SDM) introducerer tyske Langer EMV-Technik en kompakt teststation. Den flytter avanceret EMC-analyse direkte ind på udviklerens laboratoriebord og ind i ingeniørstudie-laboratoriet.
Hvor traditionelle testmetoder til måling af afskærmningseffektivitet (Shielding Effectiveness – SE) kræver dyre absorptionskamre eller komplekse koaksiale prøveholdere, tilbyder SDM-systemet en prisstærk, materiale fokuseret og højopløselig analyse uden store pladskrav.
Måleprincippet: En perfekt case til lab-undervisning og R&D
Kernen i testsystemet er et innovativt måleprincip baseret på den såkaldte Langer-metode. Systemet er opbygget omkring to koblede mikrostripledere, hvilket gør det ideelt til at demonstrere koblingsmekanismer i praksis for studerende, samt til hurtig konceptudvikling for udviklere.
Testen udføres i tre enkle trin:
- Generering af magnetfelt: Den primære mikrostripleder tilføres en kontrolleret strøm, som skaber et præcist defineret magnetisk nærfelt.
- Induktion: Dette magnetfelt inducerer en spænding i den sekundære mikrostripleder.
- Direkte differentiering: Systemet måler signalets styrke med og uden afskærmningsmateriale mellem lederne.
Ved at sammenligne de to målinger bestemmes afskærmningseffektiviteten med ekstremt høj præcision. Metoden isolerer materialets reelle ydeevne uden forstyrrende refleksioner eller eksterne faktorer.
For universiteter og ingeniørhøjskoler
- Praktisk EMC-forståelse: Giver studerende mulighed for at visualisere og måle magnetiske nærfelter, som normalt er abstrakte teorier i lærebøgerne.
- Forskning og specialer: Perfekt værktøj til bachelor-, kandidat- og ph.d.-projekter inden for materialevidenskab, antenneteknologi og indlejrede systemer (embedded systems).
- Kompakt og prisstærk: Kræver ingen facilitetsmæssige ændringer; systemet passer ind i ethvert eksisterende elektronik-laboratorium.
For hardware-udviklere og R&D-teams
- Hurtigere prototyping: Test forskellige afskærmningsmaterialer, metalliseringer eller ledende plasttyper af direkte i designfasen, før I sender produktet til dyr ekstern EMC-godkendelse.
- Præcis fejlfinding: Identificer og dæmp kritiske koblinger i nærfeltet tæt på støjkilderne (f.eks. DC/DC-konvertere eller højhastigheds-MCU'er).
- Datadrevet materialevalg: Få reproducerbare data på tynde materialer, der gør det nemt at optimere forholdet mellem pris, vægt og EMC-performance i slutproduktet.
Se mere på vores hjemmeside eller kontakt os på tlf. 7552 2020
BREAKING